Microscopía de (menos) Fuerza Atómica

Publicado el 28 abril 2010
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La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) es una técnica que nos permite ver imágenes a escala nanotecnológica. Lo hace fabricando una imagen tridimensional mediante el uso de una sonda parecida a una aguja afilada que recorre la superficie del objeto que deseamos ver. Podría decirse que hacemos un “mapa táctil”. Sin embargo, este tipo de microscopía no podía usarse con muchos materiales biológicos debido a que la fuerza necesaria para mover la sonda podía destruir el espécimen.

Los investigadores Babak Sanii y Paul D. Ashby del Departamento de Energía de EEUU han desarrollado unas sondas mucho más pequeñas y que necesitan mucha menos fuerza para “sentir” la superficie que recorren. En paralelo han desarrollado un nuevo mecanismo de detección capaz de ser usado con las nanofuerzas empleadas en este proceso. En lugar de medir la desviación de la sonda mediante la distorsión que provoca en el láser que incide sobre ella, los investigadores han medido la pauta de dispersión de la luz del láser. El duo investigador cree que podrán crear un microscopio capaz de “ver” estructuras como las membranas biológicas o los complejos macromoleculares como los ribosomas.

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